Les méthodes de déverminage et d’essais accélérés permettent de répondre aux exigences de qualité, de fiabilité et de déterminer la durée de vie, les cycles de vieillissement de chaque projet électronique (température, énergies, tension, vibration, mécanique, …)
L’appropriation des méthodes restent un enjeu majeur pour modéliser mathématiquement les essais et ainsi assurer la répétabilité des calculs à chaque projet électronique.
Public concerné : Ingénieurs et techniciens en électronique des Bureaux d’Etudes, Qualité Electronique, Industrialisation de cartes électroniques
Pré-requis : Connaissance de base en conception et fabrication de circuits électroniques
Objectifs :
Savoir appliquer les méthodes de déverminage et de vieillissement accéléré toute situation de développement électronique
Savoir préparer et mette en oeuvre les outils de calculs MTBF, calcul des profils de vie avec FIDES,…
Savoir déterminer les lots de vieillissement en faisant appel aux méthodes de fiabilité et physique des défaillances