Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

Les sujets abordés seront les suivants :
 Mise en Ligne du Test In-Situ
 Dernières évolutions de la technologie Boundary Scan
 Programmation de composants et tests fonctionnels à l’étape In-Situ
 Mesures In-Situ à l’étape fonctionnelle
 Test fonctionnel : solutions logicielles, plateformes PXI dans les domaines de l’automobile, de la haute tension/haut courant et des tests RF/Wireless.

Ces sujets seront abordés au travers de conférences et démonstrations.

Cette journée technique aura lieu dans les locaux d’Agilent Technologies :
 Agilent technologies France
 Parc Technopolis - ZA Courtaboeuf
 3, Avenue du Canada
 91978 Les Ulis Cedex

Inscription : http://www.home.agilent.com/agilent...