Tektronix EMEA a annoncé son premier événement en ligne d’une journée, qui aura lieu le mercredi 22 mai 2013 - à destination des ingénieurs travaillant dans les communications, l’informatique, les semi-conducteurs, le militaire/l’aérospatiale, l’électronique grand public, la recherche ou l’éducation, la diffusion et les autres domaines de tests et mesures électroniques. Ce salon virtuel gratuit couvrira les dernières tendances et innovations en matière de tests et de mesures, ainsi que leur application dans la pratique. Les présentations, dispensées par des experts, couvriront un large éventail de secteurs et d’applications dans le cadre d’une série de webcasts suivis de sessions de questions et réponses et de chat en direct, ainsi que d’un salon professionnel virtuel. Les inscriptions sont ouvertes dès maintenant via http://www.tektronix.com/technology....
L’événement mettra en vedette des conseils et stratégies de test et de mesure pour répondre aux tendances croissantes de l’industrie à stimuler le développement technologique, notamment :
Le défi croissant posé par les dispositifs sans fil et la manière de concevoir, déboguer et valider les différentes normes qui s’y rattachent.
La manière d’appréhender les nouvelles architectures de bus de données optiques et série, qui répondent à la demande de bandes passantes toujours plus élevés.
L’explosion des nouvelles technologies liées à l’efficacité énergétique et la demande croissante de solutions d’énergie verte.
Des webcasts se tiendront tout au long de la journée (de 9 heures à 17 heures, ECT) dans l’auditorium numérique. Outre le stand Tektronix et Keithley Instruments, les délégués pourront naviguer à travers les stands virtuels et discuter avec les sponsors de l’événement - notamment CalPlus, CN Rood, Conrad, Distrelec/Elfa, Electrorent, Elektronik-Kontor, Farnell Element14, Giakova, RS Components et SJ Electronics.
Les visiteurs pourront également recevoir une mallette électronique et emporter/télécharger les dernières versions des manuels, notes d’application, guides pratiques, etc., tant de Tektronix que de ses partenaires sponsors. Le lounge des communications proposera des chats en direct et offrira la possibilité d’interagir avec d’autres visiteurs, les sponsors ou des experts de l’industrie.
Les webcasts seront répartis en deux « flux » de webcasts de 45 minutes suivis de sessions de questions et réponses en direct :
Webcasts axés sur les technologies
Réalisation de tests dans les systèmes de transmission cohérents
Conceptions série « high speed » de prochaine génération
Vérification des résultats de simulation dans les conceptions large bande
Notions de base de l’électronique et des appareils de forte puissance
Le phénomène NBTI (Negative Bias Temperature Instability) : de quoi s’agit-il et pourquoi a-t-il de l’importance ?
Webcasts axés sur les applications/solutions
Considérations de sondage pour les applications large bande
Difficultés de test des nouveaux semi-conducteurs (de puissance) nécessaires aux initiatives d’économie d’énergie et aux initiatives vertes
Mesures de faible puissance et de faible niveau pour la conception et la vérification des semi-conducteurs
Conception, vérification et optimisation des circuits intégrés radio destinés aux applications de systèmes embarqués
Caractérisation des modules de puissance - défis et solutions
Problèmes de mesure 100G/400G
Tests d’émetteurs série « high speed »
Test de récepteurs de données série « high speed »
Analyse de bus série basse vitesse pour l’automobile et d’autres domaines d’application
TDR (réflectométrie dans le domaine temporel) pour les applications de données « high speed »
Maîtrise des techniques de mesure faible puissance, faible tension et faible résistance pour la caractérisation du graphène et d’autres nano-matériaux
Méthodes de mesure et défis du phénomène NBTI
Les inscriptions à l’événement sont ouvertes dès maintenant via http://www.tektronix.com/technology.... Toute personne inscrite qui serait dans l’impossibilité d’assister à la journée sera en mesure d’accéder à la version hors-ligne pendant 30 jours après l’événement.