Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

Un nouveau lieu, plus central et plus pratique, tant pour les exposants que pour les visiteurs. MESURExpoVISION se donne les moyens de ses ambitions : devenir l’événement fédérateur des professionnels de la mesure, du test, de la simulation et des solutions de vision. En partenariat avec les organismes représentatifs de la profession (ASTE, CETIM, COLLEGE FRANCAIS DE METROLOGIE, RESEAU MESURE VAL D’OISE, SFP, SYMOP), le nouveau salon MESURExpoVISION, regroupant les salons Mesurexpo et Vision Show, sera riche en temps forts, propices aux rencontres et aux échanges entre les acteurs de la filière.

Espaces d’exposition, journées de conférences thématiques, remises de prix et synergie avec le Carrefour de l’Industrie Electronique et Numérique (CIEN) et Forum LABO & BIOTECH, salon de tous les fabricants d’équipements de laboratoires, qui se tiendront aux mêmes dates sur le même lieu… En adéquation avec les évolutions et les préoccupations du secteur, MESURExpoVISION mettra à l’honneur la Métrologie et le Contrôle Non Destructif.

Deux secteurs à l’honneur pour coller aux préoccupations des industriels Plus que jamais, les entreprises doivent savoir rester compétitives, tout en limitant leurs coûts et leurs dépenses. Correctement appliquée, prise en compte dès l’étape de conception, la métrologie permet d’améliorer sensiblement les performances des entreprises : meilleure productivité, limitation des rebuts, réduction des coûts de gestion…

Organisées par le Collège Français de Métrologie, quatre demi-journées de conférences feront le point sur la surveillance des processus de mesure, la métrologie dans les Référentiels Qualité, le diagnostic énergétique dans l’industrie (mesurer mieux pour économiser plus) et la métrologie pour la santé et la biologie médicale.

Dans un contexte du toujours plus précis, toujours plus fiable, toujours plus de qualité, le Contrôle Non Destructif (C.N.D.) prend une place croissante dans l’industrie. Ces méthodes permettent de vérifier l’état de pièces, de structures ou de matériaux, sans les dégrader, ni altérer leur intégrité. La détection des anomalies éventuelles s’effectue soit en cours de production, soit en cours d’utilisation.

Ainsi, sur MESURExpoVISION, le CETIM organisera un cycle de conférences, Le CND : état de l’art et applications industrielles, autour de quatre thèmes : tomographie, ultrasons, multiéléments et automatisation des CND.

Sur l’espace d’animations, le CETIM proposera deux démonstrations :

 Illustration de l’utilisation des outils de simulation dans l’élaboration de contrôle ultrasonore : Le contrôle mis au point consiste en l’inspection d’un arbre mécanique en acier, à l’aide de capteurs multiéléments. Cette technologie a été choisie pour sa capacité à défléchir le faisceau ultrasonore selon différents angles, permettant ainsi l’inspection de plusieurs zones différentes sans déplacer le capteur. L’utilisation de la simulation permet de vérifier la faisabilité du contrôle, d’optimiser ses paramètres, d’évaluer ses performances, et finalement, de réduire le temps d’intervention sur la pièce.

 Mise en œuvre de deux méthodes innovantes et complémentaires de contrôle de soudure par ultrasons : La première de ces méthodes repose sur l’utilisation des capteurs multiéléments, qui permettent de réduire le temps de contrôle d’une soudure et d’en assurer une certaine traçabilité grâce au développement des techniques d’imagerie. La seconde méthode, appelée TOFD, offre une incroyable sensibilité de détection et permet, dans de nombreux cas, de remplacer le contrôle par radiograph

Un événement marqué par des temps forts

Journée « Mesure, lasers et applications » Organisée par la Société Française de Physique en partenariat avec la Fédération Française des Sociétés Scientifiques (F2S) dans le cadre du cinquantenaire de l’invention du laser, la journée s’adresse non seulement aux enseignants-chercheurs, ingénieurs, techniciens de toutes les disciplines, de la physique à la chimie, la biologie et la médecine, mais aussi à un plus large public intéressé par les applications des lasers. Le programme plus particulièrement orienté vers les techniques de mesure et les applications des lasers aux sciences et à l’industrie comme la découpe, l’usinage et le marquage laser, illustrera l’importance du laser dans le monde d’aujourd’hui. Mercredi 2 juin 2010 de 9h30 à 17h30

Unique au monde par son caractère interdisciplinaire, alliant sciences dures et sciences humaines et sociales, le Centre de Compétence Nanosciences Ile-de-France (C’Nano IdF) est l’épicentre de la recherche francilienne en nanosciences. Le C’Nano IdF et la Société Française de Physique organisent une demie Journée Nanosciences et valorisation (physique, chimie et biologie), le jeudi 3 juin, de 9h30 à 12h30.

Le rôle de l’expérimentation dans la maturité des produits sera au coeur du 40e Colloque Astelab, organisé par ASTE. Mardi 1er juin et mercredi 2 juin. Ce colloque couvre quatre sujets techniques de haute qualité et d’actualité, exposés par des experts de renom : extensométrie, climatique, mécanique, modélisation et simulation.

2 demi-journées sur le CEM (Comptabilité Electro Magnétique) seront organisées par Philippe Sissoko - Bureau Véritas LCIE).

Les entreprises récompensées pour leurs innovations

Sur MESURExpoVISION seront décernés trois prix qui mettront en valeur l’esprit d’innovation des entreprises exposantes sur le salon.

Le Prix Yves ROCARD de la SFP récompense un chercheur, un ingénieur, un technicien, une équipe ou un duo inventeur-entreprise (groupe industriel ou PME) à la base d’une innovation et ayant effectué un transfert de technologie récent (moins de cinq ans), ayant donné lieu à un prototype, un début de commercialisation… Mardi 1er juin – 16h00

Le Prix jeune chercheur Daniel Guinier de la SFP récompense un étudiant ayant soutenu sa thèse au cours de l’année écoulée. Cette année, il sera remis à Emmanuelle Gouillart pour ses travaux de thèse sur le mélange chaotique effectués au CEA (DSM) et à l’Imperial College, sous la direction d’Olivier Dauchot et Jean-Luc Thiffeault dans le cadre d’un contrat Cifre Saint-Gobain, en collaboration avec Saint-Gobain Recherche. Mercredi 2 juin – 16h00

Le Prix d’Instrumentation de la Division de Chimie Physique de la SCF et de la SFP distingue les innovations en instrumentation qui apportent des réelles avancées dans le domaine de la Chimie-Physique. D’une valeur de 2500 €, il contribue à la revalorisation de l’instrumentation et encourage son développement. Jeudi 3 juin – 15h00

Remise des Prix de la revue MESURES (Groupe 01). Mercredi 2 juin – 18h00

http://www.mesurexpovision.com