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CETEX (Consumer Electronics Test & Development Forum and Expo) donne rendez-vous aux ingénieurs de test et de développement au centre d’expositions RAI à Amsterdam où se tiendra cette toute nouvelle manifestation du 9 au 10 octobre 2024. Rohde & Schwarz y exposera ses solutions avancées de test et de mesure qui permettent aux ingénieurs de relever les nouveaux défis auxquels ils sont aujourd’hui confrontés lors du développement d’appareils électroniques grand public. Les visiteurs pourront échanger avec les experts de l’entreprise et découvrir les dernières technologies qui leur permettront d’améliorer la conformité CEM et l’efficacité énergétique de leurs produits, et de déboguer plus rapidement les conceptions mettant en œuvre des protocoles numériques.

Les produits électroniques grand public intègrent de nombreuses composantes qui doivent être testées séparément au cours de la phase de développement, lors de la compilation de la fiche technique ou lorsque le produit est en cours de certification. Tout au long de ces processus, les solutions de Rohde & Schwarz répondent à l’ensemble des applications de test : compatibilité électromagnétique (EMC/EMI), efficacité énergétique (analyse du mode de commutation), connectivité sans fil et IoT (Bluetooth, Wi-Fi, HDMI, USB4, etc.), transmission sur bus numériques… Les visiteurs du forum et de l’exposition CETEX, pourront y découvrir une sélection d’instruments de test et de mesure de Rohde & Schwarz répondant aux besoins des ingénieurs de développement d’appareils électroniques grand public.

Oscilloscopes de nouvelle génération

Les oscilloscopes de nouvelle génération des séries MXO 5 et MXO 5C se distinguent par leur extrême polyvalence. Ils permettent aux ingénieurs de test et de développement d’appareils électroniques grand public de réaliser des mesures de grande qualité, tant dans les domaines temporels que fréquentiels. Rohde & Schwarz présentera au CETEX deux familles d’oscilloscopes : la série MXO 5 dotée de quatre ou huit canaux et la série MXO 5C, la version sans écran conçue pour un montage en rack. Grâce à leur circuit intégré ASIC MXO-EP, développé par Rohde & Schwarz, ces oscilloscopes offrent le taux d’acquisition le plus rapide du marché, atteignant 4,5 millions de formes d’onde par seconde. Ils garantissent également la plus haute précision grâce à leur convertisseur analogique/numérique de 12 bits de résolution (18 bits en mode HD), ainsi qu’une profondeur mémoire permettant la capture de 500 millions de points par canal, et la plus grande sensibilité grâce à leur système de déclenchement numérique avancé. Ces caractéristiques permettent aux ingénieurs de déboguer plus efficacement leurs conceptions, facilitant notamment les applications de mesure de l’intégrité de l’alimentation et des signaux, ainsi que le débogage des conceptions intégrant des protocoles et des bus numériques.

Mesures de conversion de puissance et de consommation d’énergie

Au CETEX, Rohde & Schwarz présentera des solutions de mesure de conversion de puissance et de consommation d’énergie. Lors de l’optimisation des performances d’un système de conversion de puissance, la caractérisation des signaux de commande de grille, en particulier en multi-phase, peut s’avérer très difficile. L’oscilloscope MXO 5 permet aux ingénieurs d’effectuer des mesures précises lors de la phase de conception des systèmes de conversion de puissance. Grâce à ses huit entrées, l’instrument fournit une vue complète de tous les détails pertinents du signal. Pour les tests de consommation d’énergie de tout appareil fonctionnant sur batterie, en particulier les équipements IoT mettant en œuvre de très faibles courants de veille, Rohde & Schwarz exposera l’unité de source et de mesure à deux quadrants de la gamme R&S NGU201. Les ingénieurs concepteurs peuvent utiliser cet instrument spécifique pour simuler les caractéristiques réelles des batteries.

Tests de pré-conformité et essais CEM réalisés en interne

Tous les appareils électroniques sont susceptibles de générer des émissions électromagnétiques conduites ou rayonnées. Pour augmenter les chances de réussite des tests formels de conformité CEM, Rohde & Schwarz propose des solutions dédiées qui permettent d’intégrer les procédures de débogage et de tests CEM dans le processus de conception des produits. Les visiteurs pourront découvrir auprès des spécialistes des tests CEM de Rohde & Schwarz comment utiliser le performant oscilloscope R&S RTO6 pour le débogage CEM, ou le récepteur de test CEM de la gamme R&S EPL1000 pour réaliser en interne des tests de pré-conformité CEM.

Tests de composants

Rohde & Schwarz présentera ses ponts LRC de la gamme R&S LCX qui intègrent des fonctions de mesure d’impédance personnalisées qui conviennent à tous les composants passifs discrets jusqu’à 10 MHz. Grâce à l’outil logiciel de balayage du R&S LCX, les utilisateurs peuvent même effectuer des mesures de balayage et visualiser les nombreux graphiques qui en résultent. L’analyseur d’impédance MFIA de Zurich Instruments AG (filiale depuis 2021) sera également présenté. Le MFIA, qui permet d’analyser l’impédance des composants à basse et haute impédance, dispose d’un mode de mesure permettant de suivre rapidement les variations d’impédance sur les appareils sous test.

Connectivité sans fil et tests Bluetooth

Bluetooth® est la technologie la plus utilisée pour les communications sans fil à courte portée et à faible consommation dans le secteur de l’électronique grand public, allant des écouteurs et trackers de fitness aux applications domestiques intelligentes. Avec la plateforme CMW, Rohde & Schwarz propose une solution de test complète et entièrement automatisée pour vérifier les fonctions de la couche physique de Bluetooth® Low Energy (LE) et Bluetooth® Classic, y compris les mesures audio LE. Le testeur de connectivité sans fil de la gamme R&S CMW270, approuvé par le Bluetooth® SIG, sera exposé au CETEX. Idéal pour les solutions intégrées de communications sans fil, le testeur couvre également les tests de signalisation WLAN 11 a / b / g / n / ac / ax SISO et MIMO.

Les visiteurs peuvent découvrir les solutions de test de Rohde & Schwarz au forum et à l’exposition CETEX, sur le stand 207 de l’Elicium, Hall 13 du centre d’expositions RAI d’Amsterdam.En outre, Rohde & Schwarz contribue au programme des conférences en proposant une session présentant les techniques avancées de test et de mesure, qui permettent de relever les défis émergents dans le domaine de l’électronique grand public (10 octobre, de 11h45 à 12h15).

https://www.rohde-schwarz.com/