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Nouveaux produits

Pickering Interfaces Introduit de Nouveaux Modules d’Insertion de Défauts pour le Test HIL dans l’Automobile

Publication: Avril 2008

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Pickering Interfaces étend sa gamme de solutions en PXI d’Insertion de Défauts en introduisant deux nouveaux modules, le 40-193 et 40-194. Les nouveaux modules fournissent une solution compacte pour la simulation de défauts de faibles et forts courants pour le contrôle de systèmes qui sont très souvent utilisés pour les applications de test Hardware-in-the-Loop (HIL).
 

Chaque module supporte 7 canaux dans lequel un défaut peut-être injecté. Chaque canal peut être ouvert (pour simuler un circuit ouvert) ou court-circuité à un ou deux bus de défauts (comme à la masse ou à la batterie). Les canaux peuvent être également court-circuités entre eux pour simuler d’autres types de défauts de câblage.

Avec un courant maximal de 20 A sous 16 VDC, les deux modules sont idéalement conçus pour les applications automobiles. La version 40-194 est munie d’une circuiterie additionnelle lui permettant de commuter aussi bien des courants de faibles et fortes charges résolvant le problème des relais à fort courants qui nécessitent un minimum de courant pour nettoyer les contacts après une commutation à chaud prolongée.

Chaque module a été conçu pour assurer une utilisation robuste après plusieurs cycles d’opérations en permettant à chaque voie d’être commutée à chaud pendant que les tests se déroulent. Ceci est idéal pour détecter les occurrences intermittentes de défauts. Les deux modules sont fournis avec des drivers pour LabVIEW RT ainsi que pour le système d’exploitation QNX.

http://www.pickeringtest.com/fr

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