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Les ingénieurs des deux entreprises ont effectué des tests afin de valider la nouvelle conception de référence du capteur radar de NXP (SAF85xx) gravé avec une finesse de 28 nm et intégré sur un seul système sur puce (SoC) RFCMOS. Le système de test radar de la gamme R&S RTS associe le générateur d’écho radar automobile de la série R&S AREG800A avec le réseau d’antennes de la gamme R&S QAT100 opérant dans le domaine des ondes millimétriques. Il offre d’exceptionnelles capacités de simulation d’objets à courte distance ainsi que de très hautes performances RF et des capacités de traitement du signal sophistiqués afin de prendre en charge les fonctions les plus avancées. Cela permet de tester de manière réaliste des systèmes radars automobiles de nouvelle génération et donc à l’industrie automobile de faire un pas de plus vers le développement de véhicules complètement autonomes.

La conception de référence du capteur radar automobile de prochaine génération de NXP repose une technologie unique sur le marché. Il s’agit de la première famille de capteur radar mono-puce RFCMOS gravé avec une finesse de 28 nm. Ses performances ont pu être validées grâce au système de test radar de la gamme R&S RTS. La conception de référence du capteur radar peut être utilisée pour des applications radar à courte, moyenne et longue portée afin de répondre aux exigences de sécurité spécifiées par le programme NCAP (NCAP : New Car Assessment Program) ainsi qu’aux fonctions de confort telles que le pilotage automatique sur autoroute ou en zone urbaine concernant les véhicules L2+ et L3 qui connaissent une forte croissance.

Le R&S RTS est le seul système de test qui permet la caractérisation complète des capteurs radar et la génération d’échos radar avec des distances d’objets allant jusqu’à la valeur de l’entrefer du radar testé. Il associe le générateur d’écho radar automobile R&S AREG800A comme backend et le réseau d’antennes R&S QAT100 ou le R&S AREG8-81S comme frontend. Cette solution de test à la pointe de la technologie est adaptée à l’ensemble du cycle de vie des radars automobiles, y compris aux exigences des laboratoires de développement, des processus de test HIL (hardware-in-the-loop) et VIL (vehicle-in-the-loop), des phases de validation et de test de production. La solution, complètement modulable, peut émuler les scénarios de circulation les plus complexes pour les applications de test des systèmes avancés d’aide à la conduite.

Adi Baumann, Directeur principal ADAS R&D, chez NXP Semiconductors, a déclaré : "Nous collaborons étroitement et avec succès avec Rohde & Schwarz depuis de nombreuses années pour valider nos conceptions de référence de capteurs radar automobiles. Les systèmes à la pointe de la technologie de Rohde & Schwarz destinés au test de radars automobiles nous permettent de valider nos capteurs radar automobiles avec un haut niveau de qualité et d’efficacité. Ils nous ont permis de prouver les performances exceptionnelles de notre capteur radar mono-puce. Le niveau d’expérience, de qualité et de support de Rohde & Schwarz fait toute la différence".

Gerald Tietscher, vice-président des générateurs de signaux, des alimentations et des compteurs chez Rohde & Schwarz, a déclaré : "Nous sommes reconnaissants de la confiance que nous a accordé NXP pour l’accompagner dans son processus de déploiement de capteurs radar automobiles avancés basés sur des puces de 28 nm. Ces capteurs répondent aux exigences de sécurité de plus en plus strictes du NCAP et contribueront à la mise en oeuvre de nouvelles applications de sécurité. Notre expérience en matière de tests de radars automobiles nous permet de fournir une solution de test de premier plan pour la conception de ce capteur qui est le premier système radar intégré sur une seule puce RFCMOS de 28 nm de l’industrie".

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