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National Instruments annonce deux nouveaux instruments modulaires RF au format PXI Express pour le test automatisé de matériels de communication sans fil. L’analyseur de signaux vectoriels (VSA) 6,6 GHz NI PXIe-5663E et le générateur de signaux vectoriels (VSG) 6,6 GHz NI PXIe-5673E améliorent considérablement les temps de test d’une grande variété de matériels utilisant les derniers standards tels que WLAN (wireless local area network), WiMAX et GSM/EDGE/WCDMA. Le nouveau mode RF List de ces instruments garantit un séquencement de fréquences et de puissance déterministe qui aide les ingénieurs à modifier la configuration RF plus rapidement au cours d’un test. De plus, le nouveau mode Wide Loop Bandwidth (élargissement de la bande passante du filtre de rétro-action de la boucle à verrouillage de phase) améliore encore la vitesse des mesures en réduisant les temps d’établissement de l’oscillateur local à 300 microsecondes, voire moins.

“Ces nouveaux instruments RF illustrent notre volonté d’aider les ingénieurs à économiser de l’argent en réduisant les temps de test,” souligne Eric Starkloff, vice-président marketing pour les produits de test chez National Instruments. “Les performances accrues de nos instruments RF 6,6 GHz répondent directement aux besoins d’effectuer des tests RF automatisés plus rapidement qu’avec les solutions traditionnelles dans les applications de production en volume.”

En utilisant le mode RF List, les ingénieurs peuvent configurer les nouveaux VSG et VSA PXI Express 6,6 GHz de NI de façon à rapidement passer d’un paramètre RF à un autre au travers d’une liste préprogrammée, comme le niveau de puissance et la fréquence, et cela à des intervalles de temps déterministes. Le mode RF List facilite également les mesures de puissance plus précises en aidant les ingénieurs à optimiser le niveau de référence des entrées du VSA NI PXIe-5663E.

En mode Wide Loop Bandwidth, les nouveaux VSG et VSA bénéficient d’un temps détablissement à une fréquence centrale notablement plus court que bon nombre d’instruments traditionnels RF. Ils atteignent en effet des temps d’établissement respectivement de 300 et 400 microsecondes pour des fréquences comprises entre 800 MHz et 1,950 MHz. Avec des temps d’établissement plus rapides, les ingénieurs peuvent réduire de manière significative le temps de mesure global au sein des applications de test RF automatisé.

La suite d’instrumentation RF 6,6 GHz en PXI Express s’appuie sur la plate-forme de test NI définie par logiciel, qui intègre des technologies informatiques standards, telles que les processeurs multicœurs et le bus PCI Express. Définis par logiciel, les instruments modulaires RF de NI permettent aux ingénieurs d’utiliser le logiciel de conception graphique de systèmes NI LabVIEW pour définir les algorithmes de mesure, et de tester ainsi toute une variété de matériels sans fil cinq à dix fois plus vite qu’avec l’instrumentation RF traditionnelle.

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