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Keithley Instruments, Inc., l’un des leaders mondiaux pour les systèmes et les instruments de test électriques avancés, annonce une extension de la compatibilité des instruments Source-Mesure (SMU) avec une nouvelle version de son logiciel ACS Basic Edition. Cette extension du choix d’instruments devrait s’avérer particulièrement utile car elle repousse les limites de mesure en tension et en intensité pour les cellules solaires, les panneaux photovoltaïques et les composants discrets de puissance. Le nouveau logiciel ACS Basic Edition offre à la fois un hardware de contrôle rapide, une excellente connectivité du composant et la gestion des données en un seul outil facile à utiliser et optimisé pour la vérification, le débugging et l’analyse. Pour plus d’informations, rendez vous sur notre site : http://www.keithley.com/products/se....

Avec le lancement la nouvelle version 1.1 de ce logiciel, qui fait partie intégrante de la suite Automated Characterization Suite (ACS), vous disposerez d’un plus grand nombre de fonctionnalités pour le test de tensions ou d’intensités en DC. Cette nouvelle version est en effet compatible avec tous les SMU proposés par Keithley et permet de connecter le plus grand choix d’instruments que l’on puisse trouver dans l’industrie. Selon le SMU choisi, le logiciel ACS Basic Edition éloigne les limites de mesure d’intensité et de tension respectivement à 5A et 1100VDC sur chaque voie.

Ce recul des limites est particulièrement utile pour les tests d’évolution des panneaux photovoltaïques et des cellules solaires ainsi que pour les composants électroniques de puissance dans les applications de recherche, d’analyse des défauts et de contrôle. Ce logiciel est aussi capable de rassembler différents modèles de SMU dans un même test, ce qui permet de définir plus facilement une configuration, de créer un test et de l’exécuter et ceci sans avoir à rédiger une seule ligne de programme.

Keithley a développé le logiciel ACS Basic Edition en vue d’accroître au maximum l’efficacité des techniciens et ingénieurs responsables des packages pour la caractérisation, dans les applications allant du dernier-né des composants issus de la recherche jusqu’au développement, contrôle qualité et l’analyse des défauts. Ce logiciel est fourni complet avec une bibliothèque de sous-programmes pré configurés pour les composants afin de réduire le temps de mise en œuvre, de limiter la rédaction de programmes et de simplifier le processus . Même un utilisateur novice peut créer un test pour un composant semi-conducteur donné, en quelques secondes et comparer immédiatement les courbes de caractéristiques avec les courbes de référence. En effet, à la manière d’un traceur de courbes, ce logiciel peut non seulement tracer rapidement toute une famille de courbes relatives à un package mais aussi offrir des fonctionnalités de sauvegarde, comparer et corréler les résultats avec une extrême facilité.

Avec cette version 1.1 du logiciel, l’utilisateur dispose d’une grande diversité de fonctionnalités renforcées :

• Des options hardware étendues : Ce nouveau logiciel permet d’utiliser, dans une combinaison quelconque, le hardware des différents SMU de Keithley, le tout réuni en un même test, y compris les SourceMeter des séries 2600 et 2600A, ceux de la série des SourceMeter 2400 et le système de caractérisation des semi-conducteurs4200-SCS et le SMU modèle 237 pour les SMU haute tension. C’est ainsi que les utilisateurs peuvent effectuer des tests avec une grande diversité de SMU choisis parmi les mieux adaptés pour les conditions spécifiques requises pour un composant donné. D’autre part, une nouvelle fenêtre de paramétrage de communication permet de configurer divers instruments externes compatibles GPIB, que l’on désire inclure dans le système, tels qu’une matrice de commutation, les mesures de tension/capacité (C-V), etc. Ceci apporte une simplification appréciable et permet de valoriser des instruments externes qui peuvent se trouver le labo des utilisateurs.

• Nouveautés dans la sauvegarde des tests : La nouvelle version du logiciel ACS Basic Edition est dotée d’outils d’organisation du test aussi bien pour les composants que les instruments ; de cette façon il devient extrêmement facile de sauvegarder les algorithmes pour un test donné et de les rappeler pour une utilisation ultérieure ou les modifier. Une nouvelle boîte de dialogue « Saved Test Info » permet de choisir les instruments qui vont être utilisés. Avec cette fonction, l’utilisateur peut organiser ses tests au fur et à mesure de la saisie des données importantes ou mettre à jour la méthode employée.

• Une boîte de dialogue de sélection de mises à jour du test : Cette boîte de dialogue comporte maintenant une option composant GENERIC, qui est en fait un complément à la fonction de définition du composant par l’utilisateur et une aide à de la recherche de nouveaux instruments par une exploration effectuée par le logiciel au moment du démarrage.

• Une meilleure visualisation des données : Les données de tous les composants individuels sont présentées dans un nouveau tableau qui offre un meilleur confort de lecture car l’utilisateur peut y incorporer à tout moment les données qu’il désire avant de tracer les courbes.

• Des nouveautés dans l’éditeur de Script : L’éditeur de Script bénéficie maintenant d’améliorations qui rendent le développement et l’organisation du test beaucoup plus puissants pour un certain nombre de types de modules. Désormais, l’utilisateur peut avoir un accès direct à l’outil de développement XRCed GUI, ce qui lui permet d’établir des interfaces GUI pour des tests spéciaux, écrits en langages Python ou TSP®. Les programmes en Script fonctionnent avec les séries 2600, 2600A et le modèle 3706. Les programmes en langage Python sont utilisés pour communiquer, via le GPIB, avec les instruments qui en sont équipés aussi bien qu’avec tout autre instrument dont l’utilisateur peut désirer le contrôle.

Keithley Instruments, leader pour la caractérisation des composants semi-conducteurs et pour le test paramétrique, offre à ses clients répartis dans le monde entier une grande diversité de solutions pour les mesures I-V (courant/tension), C-V (capacité/tension) et I-V par impulsions ainsi que pour l’analyse. Ses produits vont des instruments de table aux systèmes clé en main ; ils sont utilisés dans des applications très diverses telles que l’analyse des matériaux, la caractérisation des composants, la fiabilité au niveau du chip, le contrôle et la surveillance de processus. Keithley travaille en étroite collaboration avec ses clients dans le monde par l’intermédiaire de son réseau de services de terrain et ses ingénieurs d’application qui possèdent chacun une expertise spécifique dans le domaine de la technologie des semi-conducteurs.

http://www.keithley.com