Le 40-412 fournit 32 canaux de lignes de sorties numériques qui peuvent servir comme drivers low ou high side. Chaque canal est capable de fournir 0.4A ou d’absorber 0.5A à des tensions allant jusqu’à 50V et possède des circuits de protection qui empêchent la surtension, la surcharge en courant ou thermique en l’occurrence. Les couplages logiciel empêchent les drivers high et low side d’être actionnés en même temps sur un canal, mais le module permet à chaque canal d’être indépendamment choisi pour le pilotage du low ou high side.
Quand le pilotage du high side est utilisé, la tension d’alimentation est fournie par l’utilisateur aux multiples pins du module au travers du connecteur robuste de Type D.
Le 40-412 fournit 32 canaux d’entrées numériques indépendantes avec un double seuil variable qui permet aux utilisateurs de détecter quand une entrée est à l’état bas, dans un état intermédiaire ou à l’état haut à partir d’une simple opération de lecture. L’impédance élevée d’entrée assure une charge minimale sur les entrées numériques. Une simple commande permet à l’utilisateur de capturer séquentiellement l’état de chacune des 32 voies d’entrée.
Pour des applications exigeant la relecture de l’état d’une sortie, les utilisateurs du 40-412 peuvent relier les entrées et sorties numériques entre elles à partir d’un câble ou d’un bloc de connexion. Pickering Interfaces fournit une gamme complète d’options de connectivité pour supporter le 40-412.
Selon David Owen, Business Development Manager chez Pickering Interfaces “La disponibilité de drivers high et low side ainsi que d’entrées numériques dans un seul module est idéale pour des applications où une plate-forme commune est requise pour tester une variété d’unités sous test. Le 40-412 fournit un mélange unique de possibilités de haute tension et courant combiné à la détection de seuil programmable d’entrée sur un seul slot compact en 3U. Ceci interpellera les utilisateurs qui testent des circuiteries à usage universel ainsi que ceux requérant la possibilité de piloter des charges externes tels que des enroulements de relais et solénoïdes sans risque d’endommager les conducteurs dans des conditions de panne et relecture de l’état des drivers de lignes de l’unité sous test”.