Electronique Mag - Le journal de l'électronique.

Cela est possible simplement avec le testeur à sondes mobiles Pilot 4D V8 de SEICA. Mais connaissez-vous les nombreuses autres possibilités ?

 1.1. Test double-face avec 8 sondes mobiles

 2.2. Test MDA avec carte mesure 18 bits

 3.3. Test ICT pour ICs

 4.4. Test sans vecteur pour ICs et connecteurs

 5.5. Test thermique THERMAL SCAN

 6.6. Test Boundary Scan intégré FLYSCAN

 7.7. Test fonctionnel par QUICK TEST

 8.8. Test de LEDs avec capteur sur chaque face

 9.9. Inspection AOI

 10.10. Programmation OBP (On Board Programming)

 11.11. Analyse de signature FNODE pour composants analogiques

 12.12. Analyse de signature PWMON pour composants analogiques

 13.13. Mesure de planéité par laser ALI

 14.14. Algorithmes OTPN pour réduire le temps de test

 15.15. Mise sous tension par POWER PROBES

 16.16. Test en parallèle de 2 cartes en même temps

 17.17. Lecteur code à barre/datamatrix par caméra

 18.18. Marquage par tampon après test

 19.19. Automation totale et solution clé en main

 20.20. Fonction pass-trought

 21.21. Cadre de maintien pour les cartes non standards

 22.22. Cadre de maintien pour les cartes épaisses (ajustement axe Z)

 23.23. Connectivité à des ERP standards (conforme Industrie 4.0)

Le Pilot 4D V8 représente ainsi la dernière frontière de la technologie de test à sondes mobiles ; c’est la solution complète pour ceux qui veulent un maximum de performances : la plus grande vitesse de test, les petits à moyens volumes de production, la couverture de test et la flexibilité, pour le prototypage, la fabrication ou la réparation de n’importe quel type de carte. Son architecture verticale est la solution optimale pour tester les deux côtés de la carte simultanément.

Les récents investissements de SEICA dans l’automatisation (par sa filiale SEICA Automation) permet aujourd’hui de rendre totalement autonome le test sur le Pilot 4D V8, avec de nombreuses possibilités de déploiement. La technologie embarquée dans le système et les algorithmes associés, la réduction des points de test et de la densité des composants sur la carte à tester, confirment que le Pilot 4D V8 est une solution de test d’avenir.

http://www.seica.fr